協会誌「セラミックス」第40巻 11月号(2005年)
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随想
【特集】 透過電子顕微鏡法の最前線とセラミックス
FIB/STEMシステムによる材料の三次元構造および組成分布解析技術
FIB―マイクロサンプリングとArイオンミリングを併用した高分解能観察試料作製技術の開発
いま研究室が面白い!!―New Research Cluster―
この人にきく
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放射光を用いた電子軌道の新規な観測手法(共鳴X線散乱干渉法)―ルテニウム酸化物の電子軌道状態を決定―
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直径1μm以下の微粒子中からわずかな直径数μm粗粒子を効率的に除去する方法